01 · A
问题
超长的成对测量记录不能像普通桌面图表一样一次性加载和渲染，但工程师仍需要精确定位可疑区间、标注信号类型，并在中断后继续工作。
全部项目01 / 09
让专家能够审查超长工业信号
超长工业时序标注工作台
一个面向超长测量记录的桌面工作台，支持浏览、标注、恢复与导出，并始终把模型建议和专家确认标签分开。
- 时间
- Oct 2024 — Mar 2026
- 方向
- Industrial Time Series · Human-in-the-loop Tooling · Software Engineering
- 核心技术
- Python · PyQt · PyQtGraph · NumPy
三行摘要
- 问题
- 超长的成对测量记录不能像普通桌面图表一样一次性加载和渲染，但工程师仍需要精确定位可疑区间、标注信号类型，并在中断后继续工作。
- 我做了什么
- 把专家审查需求转化为桌面交互与定位规则，包括键盘与滚轮组合导航。
- 结果 / 限制
- 为后续分类、分割与聚类建立经过人工复核的数据入口。
01 · B
背景
在一家工业测量技术企业（已脱敏），我与未来使用者和领域工程师共同迭代交互方式与定位规则。为保护保密工作，我聚焦于工作流，不展示客户数据或可反向识别设备的信息。
流程示意
围绕专家判断组织的标注工作台
我用这张流程示意图呈现交互模型：机器候选保持琥珀色，专家确认区间变为青绿色，每一次编辑都继续指向原始信号位置。
为什么重要
局部放电不是一种固定波形：内部放电、表面放电、电晕放电会与开关扰动和环境噪声同时出现。可靠的区间与类型标签，是区分这些机制、研究绝缘劣化并在其发展为更严重故障前建立分析能力的基础。
展开技术细节真正的难点 · 系统路径 · 关键取舍
真正的难点
- 01
数据规模带来的内存和渲染成本超过普通桌面界面的承受范围。
- 02
屏幕坐标、降采样视图与原始索引必须保持可逆映射。
- 03
键盘与鼠标操作需要支持快速审查，同时不能隐藏状态变化。
- 04
自动预选只能帮助确定优先级，不能替代专家确认。
坐标契约
显示可以压缩，标注不能漂移
超长记录通过窗口与降采样视图显示，但屏幕上的每个选择仍必须可逆地映射回原始采样区间。
01完整分辨率
原始记录
不可变的采样位置
02受控内存
数据窗口
只读取当前活动区间
03屏幕分辨率
显示视图
降采样以保证交互响应
04可逆映射
标注结果
保存原始起止索引
正确性由原始坐标定义，而不是由屏幕像素定义。
我的方案
系统路径
分块访问
只读取所需记录窗口，并保留原始位置
快速导航
Shift + 滚轮横移、Ctrl + 滚轮缩放，并保持总览与细节同步
专家标注
支持选择、取消、删除与区间类型标注，同时显式保留审核状态
可恢复输出
持久化进度、导出标签，并单独保存模型建议
人工复核闭环
候选区间只有经过明确决策才成为标签
预选减少专家需要查看的范围，但不会把机器建议、人工修改与已确认事实合并成同一个状态。
01候选
机器候选
建议区间与分数
02复核中
专家检查
缩放、横移并比较通道
03人工决策
修改或拒绝
移动、扩展、取消或删除
04有效事实
确认标签
类别与边界获得确认
05可恢复
持久化
保存进度并导出来源
关键取舍
显示分辨率不等于分析数据
界面可以降低绘制密度，但标注始终指向原始信号位置。
建议不等于标签
信号处理和模型输出只作为候选层显示，直到工程师确认或修改。
持久化属于工作流本身
恢复和导出被作为核心领域行为，而不是最后一个保存按钮。
04 · A
我的贡献
- 把专家审查需求转化为桌面交互与定位规则，包括键盘与滚轮组合导航。
- 实现超长记录的区间选择、取消、删除、持久化与导出链路。
- 把 Hilbert 包络和量化 TCN 自编码器实验接入可审查的预选层。
04 · B
已实现结果
- 实现模块化 GUI 与可恢复的标注工作流。
- 为后续分类、分割与聚类建立经过人工复核的数据入口。
经验与反思
01对超长信号而言，交互延迟和坐标准确性是同一个产品问题。
02人机协同系统需要同时记录机器建议与最终标签的来源。
我能公开的内容
由于项目使用保密的工业测量记录，我不能公开客户数据或内部性能基准。我能公开的是自己实现的工作流：模块化信号处理、可恢复标注，以及按原始采样位置导出结果。
公开来源
现场检测场景照片 · CC BY-SA 3.0
https://commons.wikimedia.org/wiki/File:Portable_TEV_Detector_in_use.jpg局部放电测量示意图 · CC BY-SA 3.0 https://commons.wikimedia.org/wiki/File:Partial_discharge_1a_svg.svgOMICRON 局部放电测量指南 https://www.omicronenergy.com/uploads/tx_downloader/51c20/A_Guide_for_PD_Measurements_on_MV_and_HV_apparatus_-_Part1.pdf